高低溫濕熱試驗(yàn)箱又名恒溫恒濕箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、溫濕度老化試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱等。主要用于為產(chǎn)品或者精確穩(wěn)定的環(huán)境試驗(yàn)條件：高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)、常溫儲(chǔ)存試驗(yàn)、低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)、溫度加濕度模式的儲(chǔ)存試驗(yàn)、溫度交替循環(huán)試驗(yàn)、溫度加濕度同時(shí)交替循環(huán)試驗(yàn)等。

高低溫濕熱試驗(yàn)箱在汽車(chē)整車(chē)及部件、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、軍工單位、家用電器、食品安全、醫(yī)療器械及生物制藥、新能源及材料、石油化工、航天航海、第三方實(shí)驗(yàn)室及高校研究所等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。

設(shè)備制造標(biāo)準(zhǔn)滿足：

GB/T 10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

設(shè)備滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)方法（IEC60068-2-1:2007）

GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品高溫試驗(yàn)方法（IEC60068-2-2:2007）

GB/T 2423.3-2008電工電子產(chǎn)品恒定濕熱試驗(yàn)方法（IEC60068-2-78:2012）

GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品交變濕熱試驗(yàn)方法（IEC60068-2-30:2005）

GB/T 2423.34-2012電工電子產(chǎn)品溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法（IEC60068-2-38:2009）
其他未列出企業(yè)/行業(yè)/地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)，請(qǐng)與我們確認(rèn)。

設(shè)備出廠檢定標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 5170.2-2017溫度試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

GB/T 5170.5-2016濕熱試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

GB/T 5170.18-2005溫度/濕度組合循環(huán)設(shè)備檢驗(yàn)方法