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高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試產(chǎn)品流程

 更新時(shí)間:2023-05-12 點(diǎn)擊量:312
高低溫試驗(yàn)箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律的功能,主要針對(duì)產(chǎn)品及材料在溫度變化較快的環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),適用于電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫、低溫及高低溫漸變?cè)囼?yàn),供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。那么如何利用該設(shè)備進(jìn)行樣品測(cè)試呢?
 
  1.測(cè)試準(zhǔn)備階段:將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)空氣中,直至溫度穩(wěn)定。將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行對(duì)照,符合要求后直接放入試驗(yàn)箱。
 
  2.進(jìn)行樣品測(cè)試:
 
  (1)被測(cè)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi),設(shè)置測(cè)試條件,使箱內(nèi)溫度升至相應(yīng)溫度,保持一段時(shí)間直至被測(cè)樣品到溫度穩(wěn)定,高溫測(cè)試時(shí)間以標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
 
  (2)高溫測(cè)試結(jié)束后,在5分鐘內(nèi)將試樣移動(dòng)至箱內(nèi),保持一段時(shí)間或直到試樣溫度穩(wěn)定為止,具體以測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
 
  (3)低溫階段結(jié)束后,在5分鐘內(nèi)將樣品移動(dòng)至箱內(nèi),保持一段時(shí)間或直到試樣溫度穩(wěn)定為止,具體以測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。
 
  (4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法,完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣品的大小和空間的大小,時(shí)間可能會(huì)稍有誤差。
 
  3.測(cè)試結(jié)束分析:試樣從試驗(yàn)箱中取出后,應(yīng)在正常試驗(yàn)大氣條件下恢復(fù),直至試樣溫度穩(wěn)定。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的損傷程度和其他方法評(píng)定檢查結(jié)果。


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