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鼠標(biāo)環(huán)境可靠性測(cè)試的解決方案

 更新時(shí)間:2022-10-19 點(diǎn)擊量:412

   鼠標(biāo)是計(jì)算機(jī)的一種外接輸入設(shè)備,也是計(jì)算機(jī)顯示系統(tǒng)縱橫坐標(biāo)定位的指示器,目前鼠標(biāo)的種類有滾球鼠標(biāo)、光電鼠標(biāo)、無(wú)線鼠標(biāo)。鼠標(biāo)是我們常用的電子設(shè)備,它替代了鍵盤繁瑣的指令,使計(jì)算機(jī)的操作更加簡(jiǎn)便快捷。對(duì)鼠標(biāo)進(jìn)行環(huán)境可靠性測(cè)試,能夠暴露和分析鼠標(biāo)在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理,檢驗(yàn)鼠標(biāo)性能及質(zhì)量,從而保障出廠鼠標(biāo)的品質(zhì)。

   有資料顯示,電子產(chǎn)品故障的52%失效是由環(huán)境效應(yīng)引起:其中由溫度引起的占40%,由振動(dòng)引起的占27%,由濕度引起的占19%,其余14%是砂塵、鹽霧等因素引發(fā)的故障,可見(jiàn)影響電子產(chǎn)品使用的因子是很多的,就以鼠標(biāo)為例子,如果溫度過(guò)高的確可能會(huì)出現(xiàn)鼠標(biāo)的燃燒和短路的現(xiàn)象。

圖片

安徽奧科為大家整理了3個(gè)常用的鼠標(biāo)環(huán)境可靠性測(cè)試解決方案,方案如下:

一、高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)

測(cè)試條件

1. 高溫儲(chǔ)存:溫度65±2℃,存放時(shí)間72h;

2. 低溫儲(chǔ)存:溫度-40℃,存放時(shí)間72h;

※高低溫儲(chǔ)存測(cè)試完成后,均需置于常溫下2h后檢測(cè)其功能是否正常。




4.jpg

二、高溫高濕試驗(yàn)



測(cè)試條件

溫度65℃/2h,濕度93%RH,測(cè)試完成后,置于常溫下2h后檢測(cè)其功能是否正常。




三、溫度沖擊試驗(yàn)

測(cè)試條件

低溫-40℃/2h,高溫65℃/2h,1min內(nèi)循環(huán)數(shù)5


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